Wybrane aspekty pomiaru funkcji intensywności procesów niestacjonarnych w zakresie nano i pikosekundowych rozdzielczości systemu

Ukończył studia na Wydziale Elektroniki Politechniki Gdańskiej w 1975 roku uzyskując stopień magistra inżyniera elektronika. W 1977 roku rozpoczął pracę dydaktyczną, jako asystent na Politechnice Gdańskiej. Stopień naukowy doktora nauk technicznych uzyskał z wyróżnieniem w 1985 roku na Politechnice Gdańskiej. Stopień naukowy doktora habilitowanego nauk technicznych w zakresie elektroniki, specjalność - metrologia, nadała mu w roku 2000 Rada Naukowa Wydziału Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej w Warszawie. Od roku 2003 pracuje na stanowisku profesora nadzwyczajnego na Uniwersytecie Mikołaja Kopernika w Toruniu gdzie jest kierownikiem zakładu Fizyki Technicznej i Zastosowań Fizyki. Od roku 2004 pełni funkcję kierownika Studium Politechnicznego przy Wydziale Fizyki Astronomii i Informatyki Stosowanej. Zajmuje się: systemami pomiarowymi, pomiarami wielkości elektrycznych i nieelektrycznych, pomiarem odcinka czasowego oraz wykorzystaniem układów programowalnych w systemach pomiarowych.