Marek Zieliński

Układy pomiaru i generacja odcinka czasu

Wysyłamy w ciągu 5 dni
Przekierowanie do ibuk.pl
ISBN:
978-83-231-2742-0
Rok wydania:
2011
Liczba stron:
266
Nr wydania:
pierwsze
Typ okładki:
twarda
Seria:
Monografie Uniwersytetu Mikołaja Kopernika
Wydawca:
Wydawnictwo Naukowe Uniwersytetu Mikołaja Kopernika

50,00 zł

twarda

Marek Zieliński

Układy pomiaru i generacja odcinka czasu

Kategoria produktu:

Książka z pewnością zainteresuje studentów takich kierunków jak: elektronika, elektrotechnika, automatyka, robotyka, mechatronika, fizyka doświadczalna, fizyka techniczna i telekomunikacja, gdyż zawiera zarówno rozważania teoretyczne z zakresu precyzyjnego pomiaru odcinka czasu, przegląd stosowanych układów pomiarowych jak też merytoryczną dyskusję dotyczącą praktycznych aplikacji systemów z precyzyjną bazą czasu. Książka jest kierowana również do doktorantów i pracowników naukowych zajmujących się zaawansowanymi technikami pomiarowymi oraz do inżynierów projektujących nowoczesne systemy pomiarowe z precyzyjną bazą czasu.

Podziękowania/ 7
Wstęp/ 11
1. Precyzyjny pomiar odcinka czasu/ 15
1.1. Przetwarzanie czas / napięcie/ 20
1.2. Rozszerzanie skali czasu/ 23
1.3. Noniusz elektroniczny/ 26
2. Linie opóźniające/ 39
2.1. Linie opóźniające w strukturach CMOS/ 44
2.2. Stabilizacja opóźnienia linii w strukturach CMOS/ 46
2.3. Linie opóźniające w strukturach programowalnych/ 48
2.4. Charakterystyki linii opóźniających implementowanych w strukturach programowalnych/ 62
2.5. Stabilizacja opóźnienia linii w strukturach programowalnych/ 67
2.6. Korekcja nieliniowości wielosegmentowych linii opóźniających/ 71
3. Układy pomiaru odcinka czasu/ 75
3.1. Układy z przetwarzaniem czasu na napięcie/ 77
3.2. Układy z rozszerzeniem skali czasu/ 83
3.3. Układy z generatorem pierścieniowym/ 90
3.4. Układy z liniami opóźniającymi/ 94
3.4.1. Układy noniuszowe/ 109
3.4.2. Układy z zamkniętą pętlą DLL lub PLL/ 119
3.4.3. Układy ze skracaniem impulsu/ 128
4. Histogramy stempli czasowych/ 133
4.1. Metoda wektora korekcyjnego/ 134
4.2. Metoda tablicy udziałów/ 135
4.3. Metoda QNM/ 140
4.4. Metoda SCM/ 143
5. Układy generacji zależności czasowych/ 146
5.1. Układy generacji opóźnienia i bramki/ 146
5.2. Układy generacji przesuwnych bramek czasowych/ 150
5.3. Układy generacji sekwencji bramek i złożonych zależności czasowych/ 161
6. Metody ograniczania błędów w układach z bramkami czasowymi/ 165
7. Zegar referencyjny w systemie z precyzyjną bazą czasu/ 170
7.1. Estymacja i predykcja błędu wprowadzanego przez wzorzec czasu/ 190
7.2. Dobór generatora referencyjnego dla systemu pomiaru odcinka czasu/ 193
8. Efekt metastabilności w układach asynchronicznych/ 202
8.1. Efekt metastabilności w układach FPGA/ 204
8.2. Ograniczanie wpływu efektu metastabilności/ 212
8.3. W pływ czasu narastania na efekt metastabilności/ 215
9. Zastosowania układów pomiaru i generacji odcinka czasu/ 217
9.1. Zastosowania w fizyce eksperymentalnej i medycynie/ 217
9.2. Zastosowania w przyrządach pomiarowych i telekomunikacji/ 227
Bibliografia/ 237
Skorowidz/ 261
Time-interval measurement and generation circuits (Summary)/ 265

Brak recenzji

Na razie nie ma recenzji dla książki. Możesz napisać własną!!!

Napisz recenzję

Napisz własną recenzję

Captcha
  • Marek Zieliński

    Ukończył studia na Wydziale Elektroniki Politechniki Gdańskiej w 1975 roku uzyskując stopień magistra inżyniera elektronika. W 1977 roku rozpoczął pracę dydaktyczną, jako asystent na Politechnice Gdańskiej. Stopień naukowy doktora nauk technicznych uzyskał z wyróżnieniem w 1985 roku na Politechnice Gdańskiej. Stopień naukowy doktora habilitowanego nauk technicznych w zakresie elektroniki, specjalność - metrologia, nadała mu w roku 2000 Rada Naukowa Wydziału Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej w Warszawie. Od roku 2003 pracuje na stanowisku profesora nadzwyczajnego na Uniwersytecie Mikołaja Kopernika w Toruniu gdzie jest kierownikiem zakładu Fizyki Technicznej i Zastosowań Fizyki. Od roku 2004 pełni funkcję kierownika Studium Politechnicznego przy Wydziale Fizyki Astronomii i Informatyki Stosowanej. Zajmuje się: systemami pomiarowymi, pomiarami wielkości elektrycznych i nieelektrycznych, pomiarem odcinka czasowego oraz wykorzystaniem układów programowalnych w systemach pomiarowych.

Newsletter

Jeśli są Państwo zainteresowani otrzymywaniem aktualnych informacji z Wydawnictwa Naukowego UMK, prosimy o zapisanie się do listy odbiorców naszego newslettera.

Dodano do koszyka:

Lorem ipsum