Wykaz oznaczeń / 7

1. Wstęp / 9
2. Równanie dyfuzji termicznej (przewodzenia ciepła) / 14
2.1. Odbicie i załamanie fali termicznej / 18
3. Rozkład temperatury w próbce absorbującej promieniowanie  elektromagnetyczne / 20
3.1. Model Rosencwaiga i Gersho / 20
3.2. Model interferencji fal termicznych / 25
3.2.1. Rozkład temperatury wzdłuż grubości próbki / 28
3.3. Model Jacksona i Amera (J-A) / 33
3.4. Model Blonskiego / 36
3.5. Rozkład temperatury w dwóch warstwach / 37
4. Generacja sygnału piezoelektrycznego – odkształcenie próbki i detektora / 44
4.1. Wzajemne położenie układu próbka–detektor–promieniowanie wzbudzające (model J–A) / 45
5. Absorpcja w półprzewodnikach / 49
5.1. Przejścia proste dozwolone / 49
5.2. Przejścia pomiędzy ogonami pasm / 51
6. Piezoelektryczne widma fototermiczne / 53
6.1. Przebieg amplitudy i fazy widm fototermicznych / 54
6.2. Zmiana parametrów symulacji / 56
6.2.1. Wpływ podłoża / 56
6.2.2. Grubość próbki / 58
6.2.3. Poszerzenie ogona Urbacha (parametr γ) / 58
6.2.4. Współczynnik kształtu / 60
6.3. Rozszerzenia modelu, symulacje dla materiałów nieidealnych / 61
6.3.1. Wpływ defektów obecnych w objętości próbki / 61
6.3.2. Wpływ defektów obecnych na powierzchni próbki / 63
7. Eksperyment / 68
7.1. Układ pomiarowy / 68
7.1.1. Komórka fototermiczna / 69
7.2. Przygotowanie próbek / 70
7.3. Selenek cynku / 71
7.4. Kryształy mieszane / 85
7.5. Zn1–x–yBexMnySe / 87
7.6. Zn1–x–yBexMgxSe / 97
7.7. CdS / 103
7.8. CdSe / 106
7.9. Inne efekty związane z powierzchnią / 110
8. Podsumowanie / 111
 
Aneks 1. Powierzchnia idealna a rzeczywista / 114
Aneks 2. Zdefektowana warstwa przypowierzchniowa / 118
Aneks 3. Piezoelektryczna spektroskopia fototermiczna  półprzewodników – przegląd literatury / 121
Bibliografia / 130